TU-1810ASPC紫外可见分光光度计
TU-1810ASPC紫外可见分光光度计
产品说明：
四大常规测量功能
光度测量、定量测定、光谱扫描、时间扫描
◇ 推陈出新的三维谱图功能
可实现多条光谱组合显示为三维谱图；
可对三维谱图进行光照、着色、分层等效果处理；
可实现峰值检出功能；
可进行谱图打印。
◇ 针对各行各业定制的测量软件包
基因分析－DNA蛋白质测量软件包
药物分析－**药典软件包
食品分析－食品分析软件包
环境分析－环境分析软件包
农药分析－农药残留软件包
◇ 软件遵循GLP规范
多用户管理：允许管理员创建拥有不同权限的用户和组；每个用户登陆软件需要输入相应的帐号和密码；针对一般用户可实现测量数据的保护功能。
日志记录功能：自动记录用户的操作；日志文件采用更为可靠的数据库格式保存；管理员可对日志进行分类查阅和其他处理。
二进制文件保存：测量数据的保存格式采用二进制格式；二进制格式大大加强了数据的保密程度；同时也节省了磁盘空间。
质量控制功能：可根据用户的设置对测量数据进行监控；超出控制范围的数据系统将会显示提示信息、进行颜色标记或自动重新测量。
报告输出功能：可实现与其他系统共享数据的功能；可将测量结果保存为Microsoft Word格式、Microsoft Excel格式、文本文件格式；可对报告格式进行个性化的设置；可提前预览结果报告的打印效果。
丰富的可选附件
◇ MR18-1镜面反射附件
用于双光束比例监测光学系统。
主要用途：测量固体材料表面的反射光谱特性。
规格：入射角度为5°。
◇ MS181-1八联池附件
适用于双光束比例监测光学系统而及双光束光学系统
适用于多个比色皿同时测量。
◇ DS181-1可变角度固体样品架系统
适用于双光束比例监测光学系统。
主要用途：方便对固体样品多个角度的测量。
◇ PS181-2双通道蠕动泵进样器
适用于双光束比例监测光学系统及双光束光学系统。
外置式结构，是用蠕动泵驱动的半自动进样器。
有定量进样、连续进样两种工作方式，可做多试样不换杯测量和连续流动测量。
◇ LS181-1 50mm长样池架
适用于双光束比例监测光学系统及双光束光学系统。
主要用途：配合使用长样品池进行测量。
◇ SS19-1短光程样品池架
主要用途：短光程比色皿的测量。
◇ S181-1固体样品架
适用于双光束比例监测光学系统
主要用途：方便对固体样品进行测量。
◇ TR181-1微量池架
适用于双光束比例监测光学系统。
主要用途：配合微量比色皿使用，可以提高微量样品的测量精度。
◇ CH181-1恒温池架
适用于双光束比例监测光学系统。
主要用途：与恒温水浴联用，实现温度下样品的测量。
◇ TR181-1试管架
适用于双光束比例监测光学系统。
主要用途：配合使用试管对样品进行测量。
◇ 专家数据库软件
适用于PC模式。
| 技术参数 |
双光束光学系统 | 仪器代码 | D | DS | DPC | DSPC | DAPC | DASPC | | 光谱带宽 | 2nm （固定狭缝） | 0.5、1、2、5nm （可变狭缝） | 2nm （固定狭缝） | 0.5、1、2、5nm （可变狭缝） | 2nm （固定狭缝） | 0.5、1、2、5nm （可变狭缝） | | 工作模式 | 单片机模式 | PC机模式 | 单片机模式PC机模式 | | 软件支持 | 单片机软件平台 | UVWin5.0软件工作站 | 单片机软件平台 UVWin5.0软件工作站 | | 波长范围 | 190～1100nm | 190～1100nm | 190～1100nm | | 波长准确度 | ±0.3nm（开机自动校准） | ±0.3nm（开机自动校准） | ±0.3nm（开机自动校准） | | 波长重复性 | ≤0.1nm | ≤0.1nm | ≤0.1nm | | 杂散光 | < 0.2% （220nm，Nal；340nm，NaNO2） | < 0.2% （220nm，Nal；340nm，NaNO2） | < 0.2% （220nm，Nal；340nm，NaNO2） | | 光度方式 | 透过率、吸光度、能量 | 透过率、吸光度、能量 | 透过率、吸光度、能量 | | 光度范围 | -0.3～3A | -0.3～3A | -0.3～3A | | 光度准确度 | ±0.002A（0～0.5A） | ±0.002A（0～0.5A） | ±0.002A（0～0.5A） | | ±0.004A（0.5～1A） | ±0.004A（0.5～1A） | ±0.004A（0.5～1A） | | ±0.3%T（0～T） | ±0.3%T（0～T） | ±0.3%T（0～T） | | 光度重复性 | 0.001A（0～0.5A） | 0.001A（0～0.5A） | 0.001A（0～0.5A） | | 0.002A（0.5～1A） | 0.002A（0.5～1A） | 0.002A（0.5～1A） | | 0.15%T（0～T） | 0.15%T（0～T） | 0.15%T（0～T） | | 基线平直度 | ±0.0015A（190～1100nm） | ±0.0015A（190～1100nm） | ±0.0015A（190～1100nm） | | 基线漂移 | 0.0007A/h（500nm，0A，2nm光谱带宽，预热2h后） | 0.0007A/h（500nm，0A，2nm光谱带宽，预热2h后） | 0.0007A/h（500nm，0A，2nm光谱带宽，预热2h后） | | 光度噪声 | ±0.0005A （500nm，0A，2nm光谱带宽） | ±0.0005A （500nm，0A，2nm光谱带宽） | ±0.0005A （500nm，0A，2nm光谱带宽） |
双光束比例监测光学系统 | 仪器代码 | D | S | PC | SPC | APC | ASPC | | 光谱带宽 | 2nm （固定狭缝） | 0.5、1、2、5nm （可变狭缝） | 2nm （固定狭缝） | 0.5、1、2、5nm （可变狭缝） | 2nm （固定狭缝） | 0.5、1、2、5nm （可变狭缝） | | 工作模式 | 单片机模式 | PC机模式 | 单片机模式PC机模式 | | 软件支持 | 单片机软件平台 | UVWin5.0软件工作站 | 单片机软件平台 UVWin5.0软件工作站 | | 波长范围 | 190～1100nm | 190～1100nm | 190～1100nm | | 波长准确度 | ±0.3nm（开机自动校准） | ±0.3nm（开机自动校准） | ±0.3nm（开机自动校准） | | 波长重复性 | ≤0.2nm | ≤0.2nm | ≤0.2nm | | 杂散光 | < 0.3% （220nm，Nal；340nm，NaNO2） | < 0.3% （220nm，Nal；340nm，NaNO2） | < 0.3% （220nm，Nal；340nm，NaNO2） | | 光度方式 | 透过率、吸光度、能量 | 透过率、吸光度、能量 | 透过率、吸光度、能量 | | 光度范围 | -0.3～3A | -0.3～3A | -0.3～3A | | 光度准确度 | ±0.002A（0～0.5A） | ±0.002A（0～0.5A） | ±0.002A（0～0.5A） | | ±0.004A（0.5～1A） | ±0.004A（0.5～1A） | ±0.004A（0.5～1A） | | ±0.3%T（0～T） | ±0.3%T（0～T） | ±0.3%T（0～T） | | 光度重复性 | 0.001A（0～0.5A） | 0.001A（0～0.5A） | 0.001A（0～0.5A） | | 0.002A（0.5～1A） | 0.002A（0.5～1A） | 0.002A（0.5～1A） | | 0.15%T（0～T） | 0.15%T（0～T） | 0.15%T（0～T） | | 基线平直度 | ±0.002A（190～1100nm） | ±0.002A（190～1100nm） | ±0.002A（190～1100nm） | | 基线漂移 | 0.001A/h（500nm，0A，2nm光谱带宽，预热2h后） | 0.001A/h（500nm，0A，2nm光谱带宽，预热2h后） | 0.001A/h（500nm，0A，2nm光谱带宽，预热2h后） | | 光度噪声 | ±0.0005A （500nm，0A，2nm光谱带宽） | ±0.0005A （500nm，0A，2nm光谱带宽） | ±0.0005A （500nm，0A，2nm光谱带宽） |
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